产品特征
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成像算法强大
系统预设十余种不同的算法结果图，每一种都专为捕捉特定的图像特征而设计，从各个角度精准呈现出物体表面的微小瑕疵；还支持用户根据具体的检测需求调整算法，从而输出定制化的图像，拓宽在不同应用场景中的适用性。
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图像处理流畅
相机内部集成埃科自研光度立体算法，对图像数据进行实时计算和分析，大幅减轻上位机的计算负担，保障了图像处理的速度和准确性，延迟低至微秒级，满足生产线上高速、连续的检测要求。
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光路设计丰富
针对不同检测项目，埃科光度立体成像系统支持配置不同的光源方案，确保全方位呈现瑕疵形态。
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硬件性能卓越
系统可搭配埃科自研的4K/8K线阵相机及900万像素面阵相机，线阵相机最高行频150kHz，面阵相机光度立体模式下最高帧率11.68fps，均采用万兆网接口输出数据，轻松应对在线高速检测。
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系统配置灵活
埃科光度立体成像系统集相机、光源、控制器于一体，支持镜头选配，避免了传统视觉检测系统繁杂的组件搭配。
产品规格
| 型号 | SL4KXGV-75K-4 | SL8KXGV-150K-4 | |||
| 名称 | 4K线扫4分区光度立体相机 | 8K线扫4分区光度立体相机 | |||
| 传感器类型 | Global Shutter CMOS | ||||
| 图像模式 | 黑白 | ||||
| 光学尺寸 | 28.67 mm | 57.34 mm | |||
| 分辨率 | 4096*2 | 8192*1 | |||
| 像素大小 | 7μm * 7μm | ||||
| 最大行频 | 75K | 150KHz | |||
| 像素位宽 | 8 bit | ||||
| 动态范围 | ≥54.0 dB | ≥54.1 dB | |||
| 数据率 | 307MB/s（光度立体模式614MB/s） | 1229MB/s | |||
| 触发模式 | 外部触发 / 内部自由运行 | ||||
| 触发源 | 外部IO / 软件触发 | ||||
| 曝光控制 | 时间设置 / 外部脉宽控制 | ||||
| 曝光时间 | 3.375μs - 63998.375μs（步长：0.0125μs） | ||||
| 增益范围 | 1/2/3/4/5/6/7/8x（模拟增益） 0.1-8.0（数字增益） |
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| 镜头接口 | M42 | M72 | |||
| 数据接口 | 10GigE Vision（使用 SFP+） | ||||
| 电源接口 | DB15接口 | ||||
| 电源规格 | DC12 - 24V（±10%）1.5A | ||||
| 相机功率 | 光口：10.4W / 电口：8.6W | TBD | |||
| 外壳尺寸 | 330mm(W) x 388mm(D) x348mm(H) | 相机：76mm(W) x 76mm(D) x 65.1mm(H) 系统：478mm(W) x 500mm(D) x441.77mm(H) |
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| 运行温度 | 0~55℃ | ||||
| 储存温度 | -20~75℃ | ||||
| 输出图像类型 | 光度立体模式Gradient X、Gradient Y、Texture、Integration、Curl、average、max、enhance；普通模式输出原始图像 | ||||
产品尺寸图
