机器视觉在半导体制造制程中发挥着重要作用,广泛应用于前段精密定位与检测、中段工艺监控、后段切割封装及成品检测,有效提升了产线工艺水平,确保了半导体产品的质量与成品率。埃科高阶TDI线扫相机、高速面阵相机、自动对焦系统等产品已广泛应用于半导体检测领域,在半导体行业检测核心部件的国产化进程中发挥了重要作用。